膜厚儀的準確度從哪些方面來進行提高？
　　覆層的厚度測量已成為金屬加工工業(yè)進行成品質量檢測*的zui重要的工序，目前國內(nèi)外已普遍按統(tǒng)一的標準測定涂鍍層厚度，《中華人民共和國計量法》對膜厚儀測量厚度也提出了技術要求。膜厚儀的選擇隨著材料物理性質研究方面的逐漸進步而更加至關重要。
　　影響膜厚儀準確度的因素有以下幾種：
　　1、基體金屬特性：對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似；對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。
　　2、基體金屬厚度：檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，無損檢測資源網(wǎng)如果沒有，可采用其他方法進行校準。
　　3、邊緣效應：不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉角等處進行測量。
　　4、曲率：不應在試件的彎曲表面上測量。
　　5、讀數(shù)次數(shù)：通常由于膜厚儀的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量，表面粗造時更應如此。
　　6、表面清潔度：測量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質。